lunes, 10 de noviembre de 2014

microeletronica

La MICROELECTRÓNICA se puede definir como el conjunto de ciencias y
técnicas con las que se realizan y fabrican circuitos electrónicos sobre una
pastilla de un semiconductor, lo cual formará un circuito integrado (CI).
Dentro de estos circuitos integrados, podemos encontrar diferentes estrategias de diseño, como
pueden ser los circuitos integrados en los que se deben construir tanto las puertas como las
conexiones, denominados habitualmente ASICs (Application Specific Integrated Circuits), circuitos
programables en los que se encuentran ya construidos todas las puertas y conexiones de
tal forma que únicamente hay que indicar cuales están habilitadas mediante una programación,
denominados dispositivos programables (un ejemplo de los cuales pueden ser las FPGAs,
Field Programmbled Gate Arrays).
La división existente en los circuitos electrónicos también es válida para la Microelectrónica,
es decir, podemos diferenciar entre Microelectrónica Analógica y Digital, según la naturaleza
de las señales tratadas. No obstante, el auge de la Microelectrónica surgió gracias a una
propiedad de los sistemas digitales: la jerarquía.
La propiedad de jerarquía es aquella por la cual un sistema puede estar compuesto
de bloques conectados entre sí, de tal forma que dichos bloques son
independientes entre sí y de su conexión.
A pesar de que un circuito analógico también puede ser construido por una serie de bloques
conectados entre sí; estos bloques no serán independientes de su conexión (e incluso su situación
en la base del semiconductor) debido a la naturaleza real de las señales analógicas (pueden
tener un rango infinito de valores). En cambio, el carácter digital de las señales de los
sistemas digitales provee dicha independencia y así la posibilidad de desarrollar un sistema
completamente jerárquico. A modo de ejemplo, podemos ver en la figura 1.1 dos ASICs: el
caso (a) sería un diseño analógico; y el caso (b) sería un diseño digital. En el caso analógico
podemos ver unas estructuras formadas por los mismos bloques dispuestas de una manera
especial (parecida a una circunferencia). Bien, esta disposición no es aleatoria sino que debe
ser así para garantizar el mismo comportamiento en todos los bloques. En cambio, en el circuito
digital podemos apreciar bloques comunes, cuya disposición obedece únicamente a contribuir
a que el sistema completo sea lo más compacto posible. 
podemos apreciar una clasificación de los sistemas digitales desde un
punto de vista jerárquico. Según dicho esquema los sistemas digitales se pueden representar
desde bloques de muy alto nivel, como pueden ser procesadores y/o memorias, hasta un circuito integrado, el chip. Normalmente en el campo digital se suele utilizar un proceso de
diseño top-down, en el cual partimos de las especificaciones de más alto nivel, y llegamos al
circuito integrado pasando por todos los niveles de jerarquía.
                                                                                                        



Ejemplos de diseños microelectrónicos (a) analógicos y (b) digitales

Dentro de este proceso podemos
distinguir dos fases bien diferenciadas.
En la primera fase se obtiene el circuito lógico a partir de descripciones de alto nivel. El
resultado de esta fase será un diagrama o una descripción de en un HDL (Lenguaje de Descripción
de Hardware) con las conexiones de puertas, registros, etc, es decir, bloques abstractos en
función del nivel en el que nos encontremos. Esta fase ya ha sido tratada a lo largo de diferentes
asignaturas por lo que no será tratada.
En la segunda fase, se construirán los bloques mencionados anteriormente según una
familia lógica, de tal forma que están completamente determinados el tamaño, la forma y la
estructura interna de cada uno de los bloques. En esta fase, el diseñador debe obtener los diferentes
esquemas a nivel de transistores (moviéndonos en el nivel eléctrico); y a partir del cual
se obtendrá el layout del circuito (moviéndonos en el nivel geométrico).
El layout se puede definir como una representación física de un circuito electrónico
que está sujeto a limitaciones derivadas del proceso de integración, el
flujo de diseño y requerimientos de prestaciones.
Una vez que tenemos un layout correcto, se pasa a la foundry (que es la fábrica encargada de
obtener el circuito físico) para que lleve a cabo todos los procesos de integración. La corrección
del layout se debe llevar a cabo en un doble sentido:
• una verificación funcional, en la cual ha de verificarse que las capas incluidas en el
layout, así como su distribución, sean equivalentes al esquema eléctrico de partida.
dicha verificación se suele conocer como LVS (Layout Versus Schematic)
• una verificación geométrica, en la cual ha de verificarse que las capas de un determinado
material están lo suficientemente separadas como para que, al finalizar el proceso
de integración, dichas capas estén realmente separadas. Dicha verificación se
suele conocer como DRC (Design Rules Checking). Esta verificación es lo suficientemente
importante como para que la foundry vuelva a realizarla para evitar fallos.
Por lo tanto nos vamos a centrar en los niveles eléctricos y geométricos, por ser aquellos que
no se han visto y en los que la acción del diseñador es importante.

Antes de continuar, vamos a realizar un breve recorrido por la historia que nos trajo la
Microelectrónica.
Todo ello empezó con la necesidad de realizar cálculos matemáticos intensivos. Esta
necesidad no es reciente. De hecho en 1834, Babbege desarrolló una máquina calculadora (con
las operaciones básicas de suma, resta, multiplicación y división) utilizando dispositivos mecánicos;
a pesar de lo cual su filosofía no se diferencia mucho de los ordenadores de hoy día, es
decir, realizaba las operaciones en dos ciclos: almacenar y ejecutar, y tenía una estructura en
pipeline para acelerar las operaciones. No obstante, dicha máquina fue impracticable para la
época debido al coste excesivamente elevado.
Con la llegada de las soluciones eléctricas, el coste se abarató. Como muestras de esta
época podemos indicar la utilización de los relés y de los tubos de vacío. Uno de los campos en
los que la utilización de los relés fue mayor es el campo ferroviario, de hecho, aun en nuestros
días se suelen utilizar estos dispositivos. Se puede decir que la era digital comenzó con los
tubos de vacío, ya que con ellos se desarrollaron las primeras computadoras: ENIAC y UNIVAC
I (la primera de ellas con fines militares y la segunda fue la primera computadora comercial).
No obstante, esta tecnología alcanzó pronto su límite debido al elevado consumo de
potencia que tenían.
Seguidamente entraron en escena los semiconductores con los transistores bipolares y
MOSFET. A pesar de que los transistores MOSFET (1925) fueron desarrollados antes que los  transistores bipolares (1947), al principio sufrieron una serie de problemas por los cuales su aplicación al procesado digital fue frenado. Así que continuamos con los transistores bipolares,
con los cuales se empezaron a integrar los primeros circuitos integrados en la familia TTL
(Transistor-Transistor-Logic). De nuevo se llegó al techo con el consumo de potencia, a pesar
de ello sigue siendo muy utilizado en dispositivos SSI e incluso MSI. Con la solución de los
problemas mencionados anteriormente a partir de 1970, los transistores MOSFET entraron en
la escena del procesado de señal digital. Esta entrada culminó con la fabricación del primer
microprocesador en 1972, el 4004.
La fabricación de un circuito integrado consiste de una serie de pasos en un orden específico.
El material base de los circuitos integrados es una oblea o disco de semiconductor. La tecnología
más desarrollada es la basada en silicio (Si), aunque también existen tecnologías a base
de otros semiconductores como arseniuro de galio (GaAs) o germanio y silicio (SiGe). No obstante,
todas las tecnologías siguen unos pasos similares. El semiconductor no está en equilibrio
eléctricamente, sino que unas cantidades controladas de impurezas son añadidas para dotar al
cristal de las propiedades eléctricas requeridas. Dichas impurezas pueden ser donadores (cargados
eléctricamente con signo negativo), que se corresponden al tipo n; o aceptoras (cargadas
eléctricamente con signo positivo), que corresponden al tipo p. En función del tipo de estas
impurezas podemos encontrarnos con diferentes tipos de procesos:
• Procesos de n-well (utilizado principalmente en Europa) en el que el dopado de la
oblea es de tipo p.
• Procesos de p-well (utilizado principalmente en Estados Unidos) en el que el dopado
de la oblea es de tipo n.
• Procesos de well gemelos (el cual se está extendiendo cada vez más) en el que el
signo del dopado de la oblea no tiene demasiada importancia ya que se van a generar
los dos tipos de well (n-well y p-well).
Como los tres tipos de procesos son similares, nos vamos a centrar en uno de ellos, en particular
en el proceso de n-well. Dicho proceso se muestra en la figura 1.4, más concretamente la
oblea sería el paso (a).
La primera máscara define el n-well (figura 1.4b). Esta zona, el n-well, es el lugar en el
que se van a implementar los transistores PMOS. En esta etapa también se depositan capas de
óxido grueso (denominado de campo), SiO2, para separar cada una de las regiones (figura
1.4c).
La siguiente capa que se deposita es la llamada óxido de puerta (o fino), la cual se obtendrá
por el crecimiento de las zonas de óxido de campo (figura 1.4d). Dicha capa constituirá con
el polisilicio el terminal de puerta de los transistores.
Una vez que se ha depositado el óxido de puerta, se coloca el polisilicio (figura 1.4e) y se
despeja el resto de óxido de puerta para permitir la creación de los terminales de fuente y drenador
El siguiente paso es difundir los terminales de fuente y drenador de los transistores
NMOS (figura 1.4g), y seguidamente los terminales correspondientes a los transistores PMOS
(figura 1.4h). También se crean los contactos con las zonas de polarización: regiones n+ sobre
el n-well, y regiones p+ sobre el resto del CI.
Una vez creadas las diferentes regiones n+ y p+, se pasa a la inserción de la primera capa
de metal (figura 1.4i). El contacto físico de este material (por lo general aluminio, aunque se
está probando con cobre en los últimos tiempos) con el polisilicio y las zonas de difusión provocará
un contacto eléctrico. No obstante hay que indicar que aquellas zonas en las que no se
requiere contacto, habían sido ocupadas con óxido de campo evitando de esta forma el contacto.
Para la segunda (y restantes capas) capa de metal se coloca una nueva capa
de óxido de campo por todo el CI excepto en los lugares donde exista un contacto entre la capa
actual y la anterior. Después se deposita la capa de metal en los lugares correspondientes. Cabe
destacar que el material de todas las capas de metal existentes, en la tecnología utilizada, es el
mismo, es decir, aluminio (o cobre).
En todos estos pasos podemos distinguir dos tipos de acciones: crear zonas de difusión y
de well, que alterará la composición interna de la oblea; y la deposición de material sobre la
oblea. La primera acción se puede conseguir a través de dos proceso diferentes: difusión e
implantación iónica.
• El proceso de difusión consiste en depositar sobre la oblea un material desde el cual
obtener las impurezas deseadas y calentarla oblea a una temperatura elevada. De esta
forma, los espacios intersticiales del semiconductor aumentan, y así las impurezas
pueden ocupar estos espacios.
• El proceso de implantación iónica consiste en bombardear la oblea con las impurezas
que se quieren difundir. Dicha difusión sólo se producirá en las zonas que no se
encuentren protegidas por una máscara de material.
En cuanto a la segunda acción, el proceso mas utilizado es la fotolitografía. Dicha técnica consiste
en depositar por todo el circuito una capa de material en cuestión (polisilicio o metal, también
se utiliza con el óxido para separar las diferentes capas, pero dicho proceso es
transparente para el diseñador, la única acción del diseñador en esta capa son los contactos en
los que no debe haber dicha capa de óxido), y encima de ella una máscara fotorresistiva, la cual
evitará la pérdida del material que se encuentre bajo ella. Después de haber eliminado el material
sobrante del circuito, se elimina la máscara dejando el circuito preparado para una nueva
capa.
Por lo tanto, para cualquiera de los procesos anteriores, es necesario conocer y verificar
una serie de características geométricas como son el tamaño del material depositado sobre el
circuito. Dichas características son denominadas reglas de diseño, y gracias a ellas se asegura
que los dispositivos descritos en el layout estarán en el circuito físico. Si algunas de estas
reglas son violadas no se asegura la correcta creación del circuito electrónico.
A modo de ejemplo veamos una porción de un fichero de reglas de diseño para una tecnología
CMOS estándar de 0.12 μm en la figura 1.5. En él podemos ver las diferentes capas
con las reglas geométricas correspondientes a cada una de ellas. Es interesante notar que las
dimensiones están referenciadas a un parámetro, lambda, para que la portabilidad de dichas
reglas a otras tecnologías sea más sencilla. En dicho fichero, que lo utiliza la herramienta
Microwind, podemos distinguir tres partes en cada línea: la referencia de la regla, la dimensión
mínima que se ha de verificar (en términos de lambda) y un breve comentario sobre dicha
regla. También se suele adjuntar un esquema en el que se muestran de forma gráfica las diferentes
reglas. En este caso particular únicamente se muestran las reglas del nwell, áreas activas

o difusiones y del polisilicio.